• 新闻资讯
• 技术资料
• 行业百态

卡尔蔡司AURIGA工作站（FIB - SEM）

是否与你的样品工作比只是表面成像覆盖的更多信息？你也想??知道有关的化学成分或样品的形态？你关于深入三维体积特征珍玩？或者你甚至打算修改或处理您的样品吗？

AURIGA ®新的横梁®工作站从卡尔蔡司SMT（FIB - SEM）正好提供了这一切 - 在纳米级的规模。 AURIGA ®使用Zui佳的FIB列和专有双子座电子束从卡尔蔡司列，连同一个完全新的先进的分析设计的真空室，协助您获得Zui大的信息可能出样品的。

独特的成像

    非导电性标本与当地负责赔偿使用所有标准的探测器成像
    地形和成分的信息，具有独特的探测器计划，包括ESB技术的同时检测
    双子座的磁性样本调查®物镜设计

高级分析

    非导电材料的分析与当地负责赔偿
    多用途室，15个附件端口
    同时整合EDS，EBSD技术，茎，WDS，SIMS等的优化腔几何

精密加工

    创新的FIB技术与Zui佳的分辨率（<2.5 nm的）
    高分辨率生活FE - SEM监测的整个筹备过程中
    先进的气体离子和电子束辅助刻蚀和沉积的加工技术

未来的保证

    基于双子座® FE - SEM技术的可扩展的平台概念
    增值functionalit模块化积木

天津显微镜,本文地址:http://www.shoif.com/huabei/news/396.html