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大面积透射电子显微镜的硅漂移探测器非常成功的XZui大80在透射电子显微镜上使用的探测器立体角显著高于市售的SDD任何TEM。 X射线收集更快的提高征管效率,SDD计数处理能力。的区别是明显的,立即进行分析时,纳米粒子或收集linescans或X射线地图。Zui大的X -透射电镜将不牺牲精度的前提下提高生产率 - 所有在液氮环境。 优点 X -Zui大的TEM提供了大面积的SDD探测器的所有优点 探测器技术 80平方毫米非常大,在高计数率性能优良传感器的数据收集提供了无与伦比的速度 大型立体角 减少分析时间点采集,linescans和地图 液氮免费 无需填写与液氮探测器安全的工作环境 特点 独特的单传感器大面积SDD 关于牛津仪器NanoAnalysis 我们提供的工具,以确定内样品的元素的存在,浓度和配置,以及各种不同的表面涂层材料的厚度,使用:微量分析,X射线荧光分析,涂层厚度测量。 天津显微镜,本文地址:http://www.shoif.com/huabei/news/404.html 发布时间:2012-7-17 10:05:53<返回顶部>
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