上海光学仪器厂

显微镜课程大纲笔记

互动博客

普动实验第一堂课的内容是「复合显微镜的使用和维护」。虽然学生在国高中阶段几乎都用过显微镜，但是显微镜的使用方式还是得从头好好教一次。

课堂流程重点：

上课前先开显微镜箱的锁（之后上组织课程时亦然，请值日生先把所有柜子打开，节省上课中的移动、开锁时间）

显微镜课程开始前，让学生先拿出显微镜。

注意：

(1)桌面净空；

(2)用双手拿显微镜：一手拿镜臂，一手托底座；

(3)小心轻放，严禁於桌面拖行；

(4)防尘套与眼罩放回显微镜箱中；

(5)只能碰触有烤漆和有刻纹的地方；

(6)先不要插上电源

讲解顺序、内容。对照部位讲解功能原理，先讲课再逐步操作。

讲光圈时谈景深

NA（照孔数值）：直接看显微镜镜头上的数值，Lens 长度（改变入射角）

tube length

操作：step by step。

补充教材：

新的电子背散射衍射软件

业内新闻

 EDAX最近发布的OIM™6.0的64位处理器和Microsoft®的Windows7的书面第一微量包达到40万个数据点的数据集的相容性。

OIM™软件提供了更轻松地访问最常用的功能，用一个按钮分析。其中纳入OIM™6.0的最新功能扩展QuickGen和模板的功能，完整的图像区域测绘，数据旋转容易，互动的页面颜色，和密码保护系统级设置。 OIM™6.0也提供了改善，先进的可视化工具，互动的状态栏，数据处理日志的用户访问，自动记录对数据集进行后期处理。

此外，专利池扫描技术，结合EDS-的EBSD多相分析能谱开发工具的改进，提供了增强的阶段分化，尤其是纳米级的测量。加上OIM™6.0的最新功能，能谱的EBSD可提供最全面的软件包。

能谱是一个公认的领导者，在能量色散微观分析，电子背散射衍射和X射线荧光光谱仪器。能谱设计，制造，安装和服务的高品质的产品和系统的领先企业在半导体，金属，地质，医药，生物材料和陶瓷市场。自1962年以来，能谱利用其知识和经验，开发最新的硅漂移探测器技术，数字电子产品和专业应用软件，以促进解决方案的研究，开发和工业需求。

FEI推出自然资源开采的新功能

业内新闻

FEI公司（纳斯达克股票代码：FEIC）宣布推出两个新的软件解决方案，提供的可用性量化的数据，以提高自然资源开采。此外，飞宣布，其广受欢迎的QEMSCAN（R）软件是现在广达（TM）650扫描电子显微镜（SEM）的平台上可用。

新的软件升级费的自动矿物学技术套件，高通量分析解决方案，提供广泛的地质样品定量矿物学数据的一部分。在采矿业，这一数据使工程师能够优化矿产加工及矿山规划。在石油和天然气勘探，数据使地质学家开发更好的油藏模型。

活细胞成像和变形的细胞延伸器

业内新闻

Hatfield PA，电子显微镜科学，准备显微镜设备的主要供应商，非常高兴能够同时单轴机械紧张或压缩与运动补偿的活细胞成像的细胞担架CS- 10，设备。

 细胞延伸器CS- 10，来自大的缺点，是基于细胞的贴壁细胞变形，变形的弹性膜的培养细胞​​担架。这取代光轴显微镜和显微镜观察细胞相对变得几乎不可能。在赔偿CS- 10是移动在整个膜的拉伸，使抵消这个位移

 这种紧凑型的细胞株的设备，使生活细胞成像研究需要快速图像采集，如观察改变细胞内Ca2+浓度，当细胞受到机械刺激，它可以执行。此细胞株的设备的一个最大的好处是，它允许使用市售的PDMS张其拉伸室。床单是透明的，作为一个后果是可以执行常规明场以及epifluorescence显微镜倒置显微镜。

CRAIC推出308PV™紫外可见近红外分光光度计

业内新闻

 CRAIC推出了308 PV™紫外 – 可见 – 近红外分光光度计为您显微镜。设计被添加到一个开放photoport显微镜或探针台，308光伏™显微镜分光光度计将非破坏性分析多种类型的微观样品的光谱。光伏™308采用新的CRAIC技术Lightblades™分光光度计技术，能够获得微观样本地区的吸收，反射，发光和荧光光谱，除了高清晰度的彩色图像时，连接到正确配置的显微镜。应用很多，包括煤的镜质体反射率和矿物质，高分辨率平板显示器的色度和相对强度映射，甚至薄的半导体薄膜测量的频谱分析。 308PV™分光光度计结合CRAIC技术可追踪标准，这是专门为显微分光光度计和可追溯至NIST标准参考材料的使用而设计的，是任何实验室或生产设施的成本有效的微观分析工具。

CRAIC技术已成立以来在紫外可见近红外微领域的创新者。我们已经帮助推进微观分析与创新仪器仪表，软件，研究和教学领域。 308光伏™显微镜分光光度计是实验室或生产线由于事实上，它可以增加这么多的功能，在显微镜或探针台的理想工具。它甚至可以用来升级旧显微分光光度计尖端探测器，电子和软件“国家的CRAIC科技主席保罗马丁博士。 “光伏™308还采用了我们的专有Lightblades™分光光度计技术，以提高性能和增强灵活性。除了先进的光谱，数据分析，薄膜厚度和色度软件，这个工具是适合任何环境。“

308PV™分光光度计集成了一个精密的光学接口的硬件和功能强大，易于使用的软件的CRAIC技术Lightblades™分光光度计。 Lightblades™CRAIC技术设计和建造的微观分析具体的分光光度计。这种灵敏性和稳定性的新的水平，给我们一个灵活的工具，是定制设计添加到一个显微镜photoport，并迅速从微观的样品获得高品质的光谱。复杂的软件，高分辨率成像，永久校准的可变光圈和其他创新都产生微量一个新的水平。随着高灵敏度，耐用性设计，易于使用，成像和波谱技术和CRAIC技术支持，308光伏™不仅仅是一个科学仪器… …这是一个解决您所面临的各种分析方面的挑战。

发展与CRAIC显微镜分光光度计OLED显示器

业内新闻

圣迪马斯 – 2010年2月1日， – 有机发光二极管（OLED）正在开发的下一代显示器和光源。广辉302™显微镜分光光度计欢乐氛围技术，目的是衡量和比较的光谱输出，每个常用的OLED器件的微观像素的亮度和颜色的一致性。

有机发光二极管（OLED）有一个发光的电致发光层，在支持矩阵有机分子组成。显示，这层是形成有序的行和列数以百万计的微观像素。由于不同的有机物是用来产生不同的颜色，与不同的有机化合物像素可以产生全彩色，高分辨率显示的不同颜色。 OLED设备，U nlike传统的液晶显示器（LCD），最大的优点是像素结合光源和颜色源。这意味着，OLED显示屏更轻更薄，比一个液晶显示屏，使用更少的电力。然而，强度和颜色的光发射器件上的一致性是至关重要的。这是广辉302™显微镜分光光度计等仪器使用。

广辉302™是一种设计添加到显微镜或探针台的开放photoport分光光度计。它允许用户获取的图像和微观样本地区迅速，并迅速获得的光谱。当添加到适当的显微镜或探针台，广辉302™可以用来衡量一个OLED显示屏的每个像素的颜色和强度。像素可以进行比较的强度和色彩的一致性或地图，可为每个设备生成。如广辉302™可以获取几毫秒的时间顺序上的光谱仪器，整个OLED显示器可以快速，准确地映射。这将确保色彩和整个装置的强度，以及从设备到设备的一致性。

通用的C卡口适配器（UCA）的显微镜照相机和分光光度计章1

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CRAIC今天宣布推出其通用的C卡口适配器（UCA）的显微镜照相机和分光光度计。CRAIC技术通用的C卡口适配器的设计，让相机或分光光度计，如CRAIC技术广辉302™，齐焦，并在显微镜目镜parcentral。此适配器是所谓的“通用”，因为它可以安装在许多显微镜品牌打开photoports。采用的X，Y和Z的调整以及photoport范围法兰，CRAIC技术通用的C卡口适配器，可以使用相机更容易使用和连接到显微镜分光光度计，并允许更高质量的图像迅速聚集。

“CRAIC技术创新的领导者，在紫外 – 可见 – 近红外微领域。介绍了通用的C卡口适配器在客户谁想要他们的相机中的图像被齐焦和parcentral在显微镜目镜看到的图像的要求“的CRAIC技术公司总裁保罗马丁博士，国家。”因此，我们承诺制定一个灵活的C卡口适配器，使三个轴进行运动，并让齐焦和parcentrality而耐用。CRAIC技术通用的C卡口适配器的结果。“

微型显示器比色法和强度比较新的20 20的FP

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CRAIC很高兴地宣布20/20 FPD™显微分光光度计。 20/20 FPD™是专为所有类型的微型显示器的色度和光强度比较。 20/20 FPD™能够测量微米尺度上的光谱，甚至可以映射在单个像素的颜色和强度的变化。这提供了一个无与伦比的能力，以优化和改善他们的微型显示器制造工艺的制造商。 20/20 FPD™是一个具有许多功能，灵活的设计，正因为如此，微型显示器生产中的开发和质量控制提出了一大步。

“我们的许多客户要测量平板显示器的功能越来越小。微米尺度上的光谱和成像经验，开发的20/20 FPD™是一个合乎逻辑的步骤CRAIC技术博士说：”保罗马丁先生。 “20/20 FPD™允许比色法，光谱成像和小规模像素高分辨率微型显示器常见，它也可以被配置来测量薄膜的厚度以及源强度，它甚至可以在紫外线的形象，可见光和近红外区域。“

20/20完整的平板显示™解决方案结合了最先进的显微镜和光谱学与先进的软件使用户能够测量微米尺度上的传输或反射光谱，色度，光强度和薄膜厚度。作为最小的像素现在是10微米跨越秩序，20/20 FPD™现在提供的能力，不仅可以测量整个画面的色彩和强度，但也比较像素到像素，甚至一个像素内。为生产环境而设计，它可以将自动测量功能，触摸屏控制，方便地进行修改的加工配方和先进的数据分析工具。直接图像的能力和分析与紫外线和近红外显微镜污染物的成分，也可以加入这一文书。

布鲁克纳米推出M1 MistralSDD

业内新闻

M1 MistralSDD是一个紧凑的表顶微量X射线荧光（XRF）光谱仪。该仪器提供了快速，大宗材料和结构紧凑，易于使用的系统的分层系统的非破坏性分析。

具有XFlashTM硅漂移探测器，用户可选择的光斑尺寸从0.5毫米至1.5毫米，货币供应量M1 MistralSDD广泛的应用范围，符合RoHS标准的决心，合金分析和涂层特性的理想选择。它的大样本阶段和十字形功能集成视频显微镜可以精确定位，并确保是在完全所需的位置来衡量的组成。 XSpect分析软件，加快了新用户的学习曲线，并提供了元素分析，仅点击几下鼠标，不到一分钟的测量时间。

一台笔记本电脑的带动下，货币供应量M1 MistralSDD易于维护，并不需要任何消耗品，并具有非常低的功耗。