粒径分析显微镜XTZ-AT-UV-G
产品描述:
粒径分析显微镜XTZ-AT-UV-G配置了高清晰度的体视显微镜、JVC摄像头和专业的粒度分析软件UV-G。可对大的固体粉末、建筑沙石、颜料涂层及各类反光材料进行定量分析。分析范围:10-1000μm。UV-G显微粒度分析系统是一套显微颗粒图像处理及测量分析的应用软件。凡是与颗粒图像形态学有关的各种检测与分析:例如粉末及微颗粒分析,农业种子形态分析各种微小异性几何尺寸测量,化学工业中各种反应物粒子的形态分析等,都可以利用UV-G来完成。
显微镜参数
序号 | 名称 | 技术参数 |
1 | 目镜倍数 | 10X高眼点广角平场 视场直径ф20mm |
2 | 物镜倍数 | 0.7X-4.5X 物镜变倍比1:6.4 |
3 | 三目观察头 | 瞳距55-75mm 视度调节±5屈光度 45°倾斜 360°旋转 |
4 | 视场范围 | 32 mm -4.4mm |
5 | 总放大倍数 | 7X-45X(选购0.5X、2X大物镜,20X目镜可达3.5X-180X) |
6 | 工作距离 | 最大工作距离100mm |
7 | 调节范围 | 升降调节范围45mm 立杆调节范围140mm 被观察物最大高度100mm |
8 | 玻璃载物台 | 玻璃载物工作台直径ф80mm |
9 | 光源 | 上下LED光源,亮度可调 220V |
10 | 仪器重量 | 净重:4.5kg 毛重:7.2kg |
11 | 仪器尺寸 | 仪器尺寸24X28X40(cm) 包装尺寸 28X40X44(cm) |
产品的成套件:
序号 | 名称 | 主要技术参数 | 单位 | 数量 |
1 | 显微镜主体 | 台 | 1 | |
2 | 三目镜筒 | 套 | 1 | |
3 | 平场目镜 | 10X | 对 | 1 |
4 | JVC摄像头 | 套 | 1 | |
5 | 摄像适配器 | 个 | 1 | |
6 | 图像采集卡 | 套 | 1 | |
7 | 显微粒度分析软件UV-G | 套 | 1 | |
8 | 产品说明书 | 本 | 1 | |
9 | 产品装箱单 | 份 | 1 | |
10 | 产品合格证 | 份 | 1 | |
11 | 产品保修卡 | 份 | 1 | |
成像系统配置:
1、 | 三目体视显微镜XTZ-AT |
2、 | JVC摄像头 |
3、 | 摄像适配器MCL |
4、 | 图像采集卡SLG-V110 |
5、 | 显微粒度分析软件UV-G |
6、 | 台式机或笔记本电脑、打印机(选购)、XP系统、硬盘60G、内存1G、独立显卡512M以上、USB2.0接口 |
选购件:
序号 | 类别 | 名称 |
1 | 摄像系统 | 数码相机接口+佳能单反数码相机 |
300万、500万数字摄像头 | ||
2 | 物镜 | 0.5X、2X |
3 | 其他装置 | 环形荧光光源、环形LED光源、双支冷光源 |